深圳市華科智源科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 華科智源-HTGB高溫柵偏系統(tǒng)，將被測(cè)量元件放置在一定的環(huán)境溫度中，給被測(cè)元件的柵極施加一定的偏置電壓。系統(tǒng)實(shí)時(shí)檢測(cè)每個(gè)材料的漏電流、電壓，當(dāng)被測(cè)材料實(shí)時(shí)漏電流...
產(chǎn)品型號(hào)：GKH-HTGB-C16所在地：更新時(shí)間：2023-04-04 在線留言
詳細(xì)摘要： ★符合標(biāo)準(zhǔn)：試驗(yàn)線路及試驗(yàn)方法滿足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求?！镞m用范圍：系統(tǒng)能滿足各...
產(chǎn)品型號(hào)：HK-HTRB-C16P所在地：更新時(shí)間：2023-04-04 在線留言
詳細(xì)摘要： 華科智源-IOL間歇壽命測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進(jìn)行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗(yàn)。間歇工作壽命試驗(yàn)利用...
產(chǎn)品型號(hào)：HK-IOL-16H所在地：更新時(shí)間：2023-04-04 在線留言
詳細(xì)摘要： 華科智源-功率循環(huán)老化設(shè)備主要是針對(duì)IGBT/SIC的封裝可靠性行進(jìn)行實(shí)驗(yàn),通過(guò)控制實(shí)驗(yàn)條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方式:鍵合線失效和焊料層老化。實(shí)驗(yàn)的關(guān)...
產(chǎn)品型號(hào)：GKH-PC-3000A所在地：更新時(shí)間：2023-04-04 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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